(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202211118411.1 (22)申请日 2022.09.15 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 115205507 A (43)申请公布日 2022.10.18 (73)专利权人 武汉普赛斯电子技 术有限公司 地址 430000 湖北省武汉市东湖新 技术开 发区光谷大道308号光谷动力节能环 保产业园9栋4楼 (72)发明人 马超　李博　黄秋元　周鹏　 (74)专利代理 机构 深圳紫藤知识产权代理有限 公司 44570 专利代理师 何志军 (51)Int.Cl. G06V 10/12(2022.01)G06V 10/22(2022.01) G06V 10/24(2022.01) G06V 10/44(2022.01) 审查员 蒋亮 (54)发明名称 基于图像识别的芯片定位吸取方法、 设备及 存储介质 (57)摘要 本申请提供一种基于图像识别的芯片定位 吸取方法、 设备及存储介质， 在芯片定位吸附方 法中， 通过将样本芯片放置在载物台上进行旋 转， 识别样本芯片旋转前后的位置以及偏转角 度， 以确定转动机构的旋转中心的位置。 根据旋 转中心的位置， 可以使得待测芯片在进行定位 时， 只需要一次识别待测芯片的偏转角度和初始 位置， 即可确定将待测芯片移动到图像采集窗口 的中心所需的路径， 使 得待测芯片在该图像采集 中心后能被吸附装置正确地吸附。 权利要求书2页 说明书8页 附图3页 CN 115205507 B 2022.12.13 CN 115205507 B 1.一种基于图像识别的芯片定位吸取方法， 其特征在于， 应用于芯片定位吸取装置， 所 述芯片定位吸取装置包括图像采集装置、 吸取装置以及依 次连接的转动机构、 平移机构和 载物台， 所述图像采集装置的图像采集窗口与所述吸取装置的吸取区域同心设置， 所述载 物台跟随所述平移机构平移， 所述平移机构跟随所述转动机构转动； 所述芯片定位吸取方 法包括： 将样本芯片和待测芯片放置在所述载物台上， 并控制所述平移机构将所述样本芯片平 移至所述图像采集装置的图像采集窗口中； 识别所述样本芯片在所述图像采集窗口中的初始位置和偏转角度； 根据所述样本芯片的偏转角度控制所述转动机构旋转所述样本芯片， 将所述样本芯片 的偏转角度调整为目标角度， 并识别所述样本芯片在旋转后的位置； 根据所述样本芯片的偏转角度、 初始位置以及旋转后的位置， 确定所述转动机构的旋 转中心的位置； 将所述待测芯片平移至所述图像采集 窗口中， 识别所述待测芯片在所述图像采集窗口 的中心的初始位置和偏转角度； 根据所述待测芯片的偏转角度、 初始位置以及所述旋转中心 的位置， 控制所述转动机 构和所述平移机构 旋转和平移所述待测芯片， 使得所述待测芯片的偏转角度调整为所述目 标角度且使所述待测芯片平 移至所述图像采集窗口 的中心； 控制所述吸取装置吸取 所述待测芯片。 2.根据权利要求1所述的芯片定位吸取方法， 其特征在于， 所述识别所述样本芯片在所 述图像采集窗口中的初始位置和偏转角度的步骤， 包括： 获取以所述图像采集 窗口的中心为原点的坐标轴， 所述载物台的初始的平移方向与 所 述坐标轴 所在的方向对应， 所述初始的平移方向包括相互垂直的第一方向和第二方向， 吸 取区域的边界与所述第一方向和所述第二方向平行； 识别所述样本芯片的图形轮廓； 根据吸取区域和所述样本芯片的图形轮廓， 确定所述样本芯片 沿所述第 一方向和所述 第二方向到所述图像采集窗口 的坐标轴的距离以及所述样本芯片的偏转角度。 3.根据权利要求2所述的芯片定位吸取方法， 其特征在于， 所述根据吸取区域和所述样 本芯片的图形轮廓， 确定所述样本 芯片沿所述第一方向和所述第二方向到所述图像采集窗 口的坐标轴的距离以及所述样本芯片的偏转角度的步骤， 包括： 根据所述样本芯片的图形轮廓确定所述样本芯片的中心， 以确定所述样本芯片的中心 沿所述第一方向和所述第二方向到所述图像采集窗口 的坐标轴的距离； 确定所述吸取区域的边界与 所述样本芯片的图形轮廓之间的夹角， 以确定所述样本芯 片的偏转角度。 4.根据权利要求2所述的芯片定位吸取方法， 其特征在于， 所述根据所述样本芯片的偏 转角度控制所述转动机构旋转所述样本芯片， 将所述样本芯片的偏转角度调整为目标角 度， 并识别所述样本芯片在旋转后的位置的步骤， 包括： 根据所述样本芯片的偏转角度控制所述转动机构旋转所述样本芯片， 将所述样本芯片 的偏转角度调整为所述目标角度， 并使旋转后的载物台的平移方向变为相互垂 直的第三方 向和第四方向；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115205507 B 2确定所述样本芯片在旋转后沿所述第一方向和所述第二方向到所述图像采集窗口的 坐标轴的距离 。 5.根据权利要求2所述的芯片定位吸取方法， 其特征在于， 所述根据所述待测芯片的偏 转角度、 初始位置以及所述旋转中心的位置， 控制所述转动机构和所述平移机构旋转和平 移所述待测芯片， 使得所述待测芯片的偏转角度调整为所述目标角度且使 所述待测芯片平 移至所述图像采集窗口 的中心的步骤， 包括： 根据所述待测芯片的偏转角度控制所述转动机构旋转所述待测芯片， 使得所述待测芯 片的偏转角度调整为所述目标角度， 并使得旋转后的所述载物台的平移方向包括相互垂 直 的第五方向和第六 方向； 根据所述待测芯片的初始位置、 偏转角度以及所述旋转中心 的位置， 确定所述待测芯 片旋转后的位置； 根据所述待测芯片旋转后的位置和所述待测芯片的偏转角度， 确定在将所述待测芯片 平移到所述图像采集窗口的中心时， 分别在所述第五方向和所述第六方向所需平移的距 离； 将所述待测芯片平 移到所述图像采集窗口 的中心。 6.根据权利要求2所述的芯片定位吸取方法， 其特征在于， 在将所述待测芯片平移至所 述图像采集窗口中， 识别所述待测芯片在所述图像采集窗口的中心的初始 位置和偏转角度 的步骤之前， 还 包括： 控制所述 转动机构将所述样本芯片旋转回到所述样本芯片的初始位置 。 7.根据权利要求1所述的芯片定位吸取方法， 其特征在于， 在控制所述吸取装置吸取所 述待测芯片之后， 还 包括： 控制吸取装置将所述待测芯片转移到在测试机构上， 以进行通电测试。 8.根据权利要求1所述的芯片定位吸取方法， 其特征在于， 所述样本芯片和所述待测芯 片的均为半导体激光器芯片。 9.一种终端设备， 其特征在于， 包括处理器、 存储器以及存储在所述存储器中且被配置 为由所述处理器执行 的计算机程序， 所述存储器与所述处理器耦接， 且所述处理器执行所 述计算机程序时， 实现如权利要求1至8中任一项所述的芯片定位吸取 方法。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述计算机可读存储介质存储有计算机程 序， 其中， 在所述计算机程序运行时控制所述计算机可读存储介质所在的设备执行如权利 要求1至8中任一项所述的芯片定位吸取 方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115205507 B 3